期刊信息
刊名：量子电子学报
曾用名：量子电子学
主办：中国光学学会基础光学专业委员会;中国科学院合肥物质科学家研究院
主管：中国科学院
ISSN：1007-5461
CN：34-1163/TN
语言：中文
周期：双月
影响因子：0.365217
数据库收录：
文摘杂志;北大核心期刊（2000版）;北大核心期刊（2004版）;北大核心期刊（2008版）;北大核心期刊（2011版）;北大核心期刊（2014版）;北大核心期刊（2017版）;化学文摘（网络版）;中国科学引文数据库（2011-2012）;中国科学引文数据库（2013-2014）;中国科学引文数据库（2015-2016）;中国科学引文数据库（2017-2018）;中国科学引文数据库（2019-2020）;日本科学技术振兴机构数据库;中国科技核心期刊;期刊分类：无线电电子学；物理学
期刊热词：
学术活动_第十三届全国光学前沿问题讨论会论文摘要集
曾用名：量子电子学
主办：中国光学学会基础光学专业委员会;中国科学院合肥物质科学家研究院
主管：中国科学院
ISSN：1007-5461
CN：34-1163/TN
语言：中文
周期：双月
影响因子：0.365217
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仪器仪表工业论文_荧光显微立体成像测量光学元
【作者】网站采编
【关键词】
【摘要】文章摘要:光学元件亚表面损伤直接影响光学系统激光损伤阈值，损伤深度是衡量亚表面损伤的关键参数之一，目前尚无成熟的快速定量测量方法。基于荧光显微立体成像技术提出一种损
文章摘要:光学元件亚表面损伤直接影响光学系统激光损伤阈值，损伤深度是衡量亚表面损伤的关键参数之一，目前尚无成熟的快速定量测量方法。基于荧光显微立体成像技术提出一种损伤深度测量方法。首先，在光学元件加工过程中利用量子点对亚表面损伤进行标记；当激光束以一定角度入射光学元件表面时，标记量子点会受激产生荧光；通过荧光相机对损伤层纵向分布的荧光信号进行显微立体成像，根据成像原理和结构参数计算荧光分布深度，实现光学元件亚表面损伤深度的快速定量测量。通过光学胶和甩胶工艺制备了系列标准件，并开展对比验证测量实验，结果表明所提方法针对损伤深度55～75μm，测量相对误差小于8%。
文章关键词:
文章来源：《量子电子学报》 网址: http://www.lzdzxbzz.cn/qikandaodu/2021/1130/1319.html